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TETRAHEDRON LETTERS  (2016)

Pamam built-on-silicon wafer thin-layer extraction devices for selective metal contamination detection

Oscar Valdés, Claudia Vergara, Fabiane M. Nachtigall, Zoraya Lopez-Cabaña, Jaime Tapia, Leonardo S. Santos.

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Título de la Revista: TETRAHEDRON LETTERS
Editorial: PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
Fecha de publicación: 2016
Página de inicio: 2468
Página final: 2473
DOI/URL:

http://dx.doi.org/10.1016/j.tetlet.2016.04.063