On the Design Robustness and Long Term Performance of the Most Used Electrodes in the Copper Electrowining Industry

Eduardo P. Wiechmann; Anibal S. Morales; Pablo Aqueveque; Jorge Henriquez; Esteban J. Pino; Leonardo G. Aburto

Más información

Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 0
DOI/URL:

10.1109/TIA.2016.2574778