Reliability sensitivity estimation of linear systems under stochastic excitation

Jensen, HA; Schueller, F; Caro, F; Valdebenito, M

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Título de la Revista: Computers & Structures
Fecha de publicación: 2012
Página de inicio: 257
Página final: 268
DOI/URL:

10.1016/j.compstruc.2011.10.020