Article ISI
Nanotechnology  (2009)

Scanning Gate Microscopy of quantum rings=> effects of an external magnetic field and of charged defects

M. G. Pala, S. E. Baltazar; F. Martins, B. Hackens; H. Sellier, T. Ouisse; V. Bayot, S. Huant

Más información

Título de la Revista: Nanotechnology
Fecha de publicación: 2009
Página de inicio: 2640211
Página final: 264025
DOI/URL:

10.1088/0957-4484/20/26/264021