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Semiconductor Science and Technology  (2011)

On the imaging of electron transport in semiconductor quantum structures by scanning- gate microscopy=> success and limitations

H. Sellier, B. Hackens; M. G. Pala, F. Martins; S. Baltazar, X. Wallart; L. Desplanque, Bayot V

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Título de la Revista: Semiconductor Science and Technology
Fecha de publicación: 2011
Página de inicio: 64008
Página final: 6400810
DOI/URL:

10.1088/0268-1242/26/6/064008