Modern Computer Vision Techniques for X-Ray Testing in Baggage Inspection

Mery D., Svec E.; Arias M., Riffo V.; Saavedra J.M., Banerjee S.

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Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON SYSTEMS MAN CYBERNETICS-SYSTEMS
Volumen: 47
Asunto: 4
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2017
Página de inicio: 682
Página final: 692
DOI/URL:

10.1109/TSMC.2016.2628381