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Journal of Physics: Conference Series  (2008)

Optical characterization of semiconductor materials by using FTIR-PAS

Fabiola Arévalo; Renato Saavedra; M. Paulraj

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Título de la Revista: Journal of Physics: Conference Series
Volumen: 134
Asunto: 1
Editorial: Institute of Physics
Fecha de publicación: 2008
Página de inicio: 120191
Página final: 120195
DOI/URL:

10.1088/1742-6596/134/1/012019