An indirect method to measure the electric charge deposited on insulators during PIXE analysis
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| Título de la Revista: | Nuclear Instruments and Methods in Physics Research B |
| Editorial: | Elsevier |
| Fecha de publicación: | 2007 |
| Página de inicio: | 529 |
| Página final: | 531 |
| DOI/URL: |
10.1016/j.nimb.2007.07.011 |