Ellipsometric thickness and coverage of physisorbed layers of Xe, Kr, Ar and N2 on graphite

J.W.O. Faul, U.G. Volkmann, K. Knorr

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Título de la Revista: Surface Science 227
Editorial: Elsevier
Fecha de publicación: 1990
Página de inicio: 390
Página final: 394
DOI/URL:

doi:10.1016/S0039-6028(05)80026-3