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15th International Conference on Electronics, Communications and Computers, Proceedings  

“Diseño de Crisoles de Alto Horno y el Modelo de Desgaste Nodal (MDN).”

Barbés, Ma F.; Verdeja, Luis F.; Parra, Roberto; Castillo, Alan and Colás, Rafael

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Título de la Revista: 15th International Conference on Electronics, Communications and Computers, Proceedings
Editorial: IEEE COMPUTER SOC
Año de Inicio/Término: Noviembre 13-15, 2005.