Local Equating Using the Rasch Model, the OPLM, and the 2PL IRT Model-or-What Is It Anyway if the Model Captures Everything There Is to Know About the Test Takers?

von Davier, M; Gonzalez, J; von Davier, AA

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Título según WOS: Local Equating Using the Rasch Model, the OPLM, and the 2PL IRT Model-or-What Is It Anyway if the Model Captures Everything There Is to Know About the Test Takers?
Título según SCOPUS: Local equating using the rasch model, the OPLM, and the 2PL IRT model-or-what is it anyway if the model captures everything there is to know about the test takers?
Título de la Revista: Journal of Educational Measurement
Volumen: 50
Número: 3
Editorial: WILEY-BLACKWELL
Fecha de publicación: 2013
Página de inicio: 295
Página final: 303
Idioma: English
URL: http://doi.wiley.com/10.1111/jedm.12016
DOI:

10.1111/jedm.12016

Notas: ISI, SCOPUS