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MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY  (2010)

Measuring object shape by using in-plane electronic speckle pattern interferometry with divergent illumination

Parra-Michel, Jorge; Martínez, Amalia; Anguiano-Morales, Marcelino; Rayas, J.A.

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Título de la Revista: MEASUREMENT SCIENCE AND TECHNOLOGY
Volumen: 21
Número: 4
Editorial: IoP
Fecha de publicación: 2010
Página de inicio: 045303
URL: http://stacks.iop.org/0957-0233/21/i=4/a=045303?key=crossref.65dabda4c4aa1f929ef7a6dcbd0a8a47
DOI:

10.1088/0957-0233/21/4/045303