Rietveld refinement of X-ray diffractograms evidences surface texturization in chemical and biological leaching of chalcopyrite at 70 degrees C

Oyarzún P.; Gautier, V; Reich, M; Vargas, T.

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Título según WOS: Rietveld refinement of X-ray diffractograms evidences surface texturization in chemical and biological leaching of chalcopyrite at 70 degrees C
Título de la Revista: BIOHYDROMETALLURY: FROM THE SINGLE CELL TO THE ENVIRONMENT
Volumen: 71-73
Editorial: Trans Tech Publications Ltd.
Fecha de publicación: 2009
Página de inicio: 389
Página final: 392
Idioma: English
Notas: ISI