Abstract ISI
BIOPHYSICAL JOURNAL  (2015)

Residues Involved in Cx26 Hemichannels Voltage Dependent Gating

Pinto B.I.; Baez-Nieto D.; Pupo A.; Martinez, A; Latorre R.; Gonzalez C.

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Título según WOS: Residues Involved in Cx26 Hemichannels Voltage Dependent Gating
Título de la Revista: BIOPHYSICAL JOURNAL
Volumen: 108
Número: 2
Editorial: Cell Press
Fecha de publicación: 2015
Página de inicio: 442A
Página final: 442A
Idioma: English
Notas: ISI