Article ISI SCOPUS
APPLIED PHYSICS LETTERS  (2016)

Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning

Langer, M.; Wagner, K.; Sebastian, T.; Hübner, R.; Grenzer, J.; Wang, Yutian; Kubota, T.; Schneider, T.; Stienen, S.; Lenz, K.; Schultheiß, H.; Lindner, J.; Takanashi, K.; Arias, R. E.; Fassbender, J.

Más información

Título según WOS: Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning
Título según SCOPUS: Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning
Título de la Revista: APPLIED PHYSICS LETTERS
Volumen: 108
Número: 10
Editorial: AMER INST PHYSICS
Fecha de publicación: 2016
Idioma: English
DOI:

10.1063/1.4943228
Notas: ISI, SCOPUS