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APPLIED PHYSICS LETTERS  (2016)

Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning

Hübner, R.; Grenzer, J.; Wang, Yutian; Schultheiß, H.

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Título según WOS: Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning
Título según SCOPUS: Parameter-free determination of the exchange constant in thin films using magnonic patterning
Título de la Revista: APPLIED PHYSICS LETTERS
Volumen: 108
Número: 10
Editorial: AMER INST PHYSICS
Fecha de publicación: 2016
Idioma: English
DOI:

10.1063/1.4943228
Notas: ISI, SCOPUS