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An Intercell Busbar Topology to Surpass Anomalies of Copper Electrorefining Processes
Keywords: short-circuit detection, intercell busbar, open-circuit detection, Copper electrorefining (ER), finite-element methods (FEM)
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| Título según WOS: | An Intercell Busbar Topology to Surpass Anomalies of Copper Electrorefining Processes |
| Título según SCOPUS: | An Intercell Busbar Topology to Surpass Anomalies of Copper Electrorefining Processes |
| Título de la Revista: | IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS |
| Volumen: | 54 |
| Número: | 5 |
| Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
| Fecha de publicación: | 2018 |
| Página de inicio: | 4977 |
| Página final: | 4982 |
| Idioma: | English |
| DOI: |
10.1109/TIA.2018.2840978 |
| Notas: | ISI, SCOPUS |