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IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS  (2018)

An Intercell Busbar Topology to Surpass Anomalies of Copper Electrorefining Processes

Wiechmann, E; Aqueveque, P; Henriquez, JA; Morales, AS; Munoz, LG

Keywords: short-circuit detection, intercell busbar, open-circuit detection, Copper electrorefining (ER), finite-element methods (FEM)

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Título según WOS: An Intercell Busbar Topology to Surpass Anomalies of Copper Electrorefining Processes
Título según SCOPUS: An Intercell Busbar Topology to Surpass Anomalies of Copper Electrorefining Processes
Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON INDUSTRY APPLICATIONS
Volumen: 54
Número: 5
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2018
Página de inicio: 4977
Página final: 4982
Idioma: English
DOI:

10.1109/TIA.2018.2840978
Notas: ISI, SCOPUS