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IEEE ACCESS  (2021)

Maximizing network reliability to 0-day exploits through a heterogeneous node migration strategy

Prieto, Yasmany; Figueroa, Miguel; Pezoa, Jorge E.

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Título de la Revista: IEEE ACCESS
Volumen: 9
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2021
Página de inicio: 97747
Página final: 97759
URL: https://doi.org/10.1109/ACCESS.2021.3095149
Notas: WOS Core Collection ISI