Finite-Length Bounds on Hypothesis Testing Subject to Vanishing Type I Error Restrictions
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Título de la Revista: | IEEE SIGNAL PROCESSING LETTERS |
Volumen: | 28 |
Editorial: | IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC |
Fecha de publicación: | 2021 |
Página de inicio: | 229 |
Página final: | 233 |
URL: | https://doi.org/10.1109/LSP.2021.3050381 |