Reliability sensitivity estimation of linear systems under stochastic excitation

Valdebenito, M.; Jensen, H.; Schuëller, G.; Caro, F.

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Título de la Revista: Computers & Structures
Volumen: 92-93
Fecha de publicación: 2012
Página de inicio: 257
Página final: 268
DOI/URL:

10.1016/j.compstruc.2011.10.020