Effect of the exchange bias coupling strength on the magnetoimpedance of IrMn/NiFe films

Garcia, C; Florez, JM; Vargas, P; Ross, CA

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Título de la Revista: JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
Volumen: 109
Asunto: 7
Editorial: AMER INST PHYSICS
Fecha de publicación: 2011
Página de inicio: 0
Página final: 0
DOI/URL:

10.1063/1.3565405