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MICROELECTRONICS JOURNAL  (2008)

Threshold effect in the energy loss of hydrogen and helium ions transmitted in channeling conditions in gold single crystal

Celedon, C; Arista, NR; Valdes, JE; Vargas, P

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Título de la Revista: MICROELECTRONICS JOURNAL
Volumen: 39
Asunto: 11
Editorial: ELSEVIER SCI LTD
Fecha de publicación: 2008
Página de inicio: 1358
Página final: 1359
DOI/URL:

10.1016/j.mejo.2008.01.037