Exactitud espacial en la creación de bases de datos SIG, modelos ráster y vectorial.

Mena, Carlos; Morales, Yohana; Gajardo, John; Ormazábal, Yony

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Título de la Revista: Ingeniare
Fecha de publicación: 2008
Página de inicio: 159
Página final: 158
DOI/URL:

10.4067/S0718-33052008000100005