Unbiased risk estimates for singular value thresholding and spectral estimators

Candès, Emmanuel J.; Sing-Long, Carlos A.; Trzasko, Joshua D.

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Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON SIGNAL PROCESSING
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2013
Página de inicio: 4643
Página final: 4657
DOI/URL:

10.1109/TSP.2013.2270464