Diagnostics in elliptical regression models with stochastic restrictions applied to econometrics

Leiva V.; Liu, SZ; Shi L.; Cysneiros, FJA

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Título de la Revista: Journal of Applied Statistics
Volumen: 43
Asunto: 4
Editorial: Taylor and Francis Ltd.
Fecha de publicación: 2016
Página de inicio: 627
Página final: 642
DOI/URL:

10.1080/02664763.2015.1072140