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Tetrahedron Letters  (2016)

Pamam built-on-silicon wafer thin-layer extraction devices for selective metal contamination detection

Valdés O.; Vergara C.; Nachtigall F.M.; Lopez-Cabaña Z.; Tapia J; Santos L.S.

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Título de la Revista: Tetrahedron Letters
Volumen: 57
Asunto: 23
Editorial: Elsevier Limited
Fecha de publicación: 2016
Página de inicio: 2468
Página final: 2473
DOI/URL:

10.1016/j.tetlet.2016.04.063