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COMPUTERS AND ELECTRONICS IN AGRICULTURE  (2015)

Low cost assessment of wheat resistance to yellow rust through conventional RGB images

Zhou B, Elazab A; Bort J, Vergara-Diaz O; Serret MD, Araus JL

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Título de la Revista: COMPUTERS AND ELECTRONICS IN AGRICULTURE
Editorial: ELSEVIER SCI LTD
Fecha de publicación: 2015
Página de inicio: 20
Página final: 29
DOI/URL:

https=>//doi.org/10.1016/j.compag.2015.05.017