Studies of the structure and growth mode of dotriacontane films by synchrotron x-ray scattering and molecular dynamics simulations

Mo H.; Trogisch, S.; Taub H.; Ehrlich, SN; Volkmann, UG; Hansen, FY; Pino, M

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Título de la Revista: JOURNAL OF PHYSICS-CONDENSED MATTER
Volumen: 16
Editorial: IoP
Fecha de publicación: 2004
Página de inicio: 2905
Página final: 2910
DOI/URL:

10.1088/0953-8984/16/29/005