Modern computer vision techniques for X-Ray testing in baggage inspection

Mery D., Svec E.; Arias M., Riffo V.; Saavedra J.M., Banerjee S.

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Título de la Revista: IEEE Transactions on Systems, Man, and Cybernetics=> Systems
Volumen: 47
Asunto: 4
Editorial: Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
Fecha de publicación: 2017
Página de inicio: 682
Página final: 692
DOI/URL:

10.1109/TSMC.2016.2628381