Multidimensional Network Resilience Analysis

Bachmann, I; Reyes, P; Bustos, J; Silva, A

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Título de la Revista: IEEE LATIN AMERICA TRANSACTIONS
Volumen: 14
Asunto: 6
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2016
Página de inicio: 2912
Página final: 2914
DOI/URL:

10.1109/TLA.2016.7555274