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IEEE Transactions on Industry Applications  (2014)

Introducing a Bypass-Backup Connection System for Current-Mode Copper Electrowinning Intercell Bars

Eduardo P. Wiechmann , Luis G. Muñoz ; Pablo E. Aqueveque , Guillermo A. Vidal

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Título de la Revista: IEEE Transactions on Industry Applications
Fecha de publicación: 2014
Página de inicio: 1490
Página final: 1495
DOI/URL:

10.1109/TIA.2013.2273752