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In Proc. of the International Microwave and Optoelectronics Conference (IMOC) 2013, Rio de Janeiro, Brazil  (2013)

Spatial and Frequency Domain Metrics for Assessing Fixed-Pattern Noise in Infrared Images

F. Pérez, M. Nova, J. E. Pezoa, M. Figueroa, and S. N. Torres

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Título de la Revista: In Proc. of the International Microwave and Optoelectronics Conference (IMOC) 2013, Rio de Janeiro, Brazil
Fecha de publicación: 2013
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