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IEEE ACCESS  (2019)

Hard X-Ray Emission Detection Using Deep Learning Analysis of the Radiated UHF Electromagnetic Signal From a Plasma Focus Discharge

Avaria, Gonzalo; Ardila-Rey, Jorge; Davis, Sergio; Orellana, Luis; Cevallos, Benjamín; Pavez, Cristian; Soto, Leopoldo

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Título de la Revista: IEEE ACCESS
Editorial: INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS ENGINEERS INC.
Fecha de publicación: 2019