Technology Acceptance Model: Worried about the Cultural Influence?

Fernandez Robin, C, McCoy S, Yañez Sandivari L, Yañez Martinez D.

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Título de la Revista: Lecture Notes in Computer Science
Volumen: 8527
Editorial: Springer Verlag
Fecha de publicación: 2014
Página de inicio: 609
Página final: 619
DOI/URL:

10.1007/978-3-319-07293-7_59