Upgrade of the automatic analysis system in the TJ-II Thomson Scattering diagnostic: New image recognition classifier and fault condition detection

Makili L. , Vega J. , Dormido-Canto S. , Pastor I. , Pereira A., Farias G., Portas A., Pérez-Risco D., Rodríguez-Fernández M.C., Busch P.

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Título de la Revista: Fusion Engineering and Design
Fecha de publicación: 2010
Página de inicio: 415
Página final: 418