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Microelectronics Journal  (2008)

Threshold effect in the energy loss of hydrogen and helium ionstransmitted in channeling conditions in gold single crystal

C. Celedón; N.R. Arista; J.E. Valdés; P. Vargas

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Título de la Revista: Microelectronics Journal
Fecha de publicación: 2008
Página de inicio: 1358
Página final: 1359
DOI/URL:

10.1016/j.mejo.2008.01.037