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Adv. Mat. Research  (2009)

Rietveld refinement of X-ray diffractograms evidences surface texturization in chemical and biological leaching of chalcopyrite at 70ºC

P. Oyarzún, V. Gautier, M. Reich, T. Vargas

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Título de la Revista: Adv. Mat. Research
Volumen: 71/73
Editorial: Scientific.net
Fecha de publicación: 2009
Página de inicio: 389
Página final: 392