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Journal of Applied Physics  (2011)

Experimental evidence of direct contact formation for the current transport in silver thick film metallized silicon emitters

Enrique Cabrera, Sara Olibet; Joachim Glatz-Reichenbach, Radovan Kopecek; Daniel Reinke, Gunnar Schubert

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Título de la Revista: Journal of Applied Physics
Editorial: American Institute of Physics
Fecha de publicación: 2011
Página de inicio: 1145111
Página final: 1145115
DOI/URL:

http=>//dx.doi.org/10.1063/1.3665718