Goodness-of-Fit Tests for the Birnbaum-Saunders Distribution With Censored Reliability Data

Barros, M; Leiva, V; Ospina, R; Tsuyuguchi, A

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Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY
Volumen: 63
Asunto: 2
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2014
Página de inicio: 543
Página final: 554
DOI/URL:

10.1109/TR.2014.2313707