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PATTERN ANALYSIS AND APPLICATIONS  (2008)

Robust automated multiple view inspection

Pizarro, L; Mery, D; Delpiano R.; Carrasco, M

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Título de la Revista: PATTERN ANALYSIS AND APPLICATIONS
Volumen: 11
Asunto: 1
Editorial: Springer
Fecha de publicación: 2008
Página de inicio: 21
Página final: 32
DOI/URL:

10.1007/s10044-007-0075-9