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IEEE TRANSACTIONS ON PLASMA SCIENCE  (2002)

Further statistical studies of ionization growth and breakdown formation mechanisms in the final breakdown phase of a transient hollow cathode discharge

Moreno J.; Zambra, M; Favre M.

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Título de la Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PLASMA SCIENCE
Volumen: 30
Asunto: 1
Editorial: IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC
Fecha de publicación: 2002
Página de inicio: 417
Página final: 422
DOI/URL:

10.1109/TPS.2002.1003890