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Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering  (2010)

Surface Layer characterization at Paranal Observatory

Lombardi, G; Melnick J.; Goni, RHH; Navarrete, J; Sarazin M.; Berdja, A.; Tokovinin, A; Wilson R.; Osborn J.; Butterley, T; Shepherd, H

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Título según WOS: Surface Layer characterization at Paranal Observatory
Título según SCOPUS: Surface Layer characterization at Paranal Observatory
Título de la Revista: Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering
Volumen: 7733
Número: PART 1
Editorial: SPIE
Fecha de publicación: 2010
Idioma: English
URL: http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-77958129437&partnerID=q2rCbXpz
DOI:

10.1117/12.856772
Notas: ISI, SCOPUS