Caracterización y clasificación de la bahía de Puerto Montt mediante batimetría de multihaz y datos de backscatter

Rodrigo, Cristián

Abstract

Se efectu

Más información

Título según SCIELO: Caracterización y clasificación de la bahía de Puerto Montt mediante batimetría de multihaz y datos de backscatter
Título de la Revista: Rev. Investigaciones Marinas
Volumen: 34
Número: 1
Editorial: Escuela de Ciencias del Mar, Pontificia Universidad Católica de Valparaíso
Fecha de publicación: 2006
Página de inicio: 83
Página final: 94
Idioma: es
URL: http://www.scielo.cl/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0717-71782006000100007&lng=en&nrm=iso&tlng=en
DOI:

10.4067/S0717-71782006000100007

Notas: SCIELO