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15th International Conference on Electronics, Communications and Computers, Proceedings  (2010)

Characterization and analysis of Porous, Brittle solid structures by X-ray micro computed tomography

CL Lin, AR Videla, Q Yu, JD Miller

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Título de la Revista: 15th International Conference on Electronics, Communications and Computers, Proceedings
Volumen: 62
Número: 12
Editorial: IEEE COMPUTER SOC
Fecha de publicación: 2010
Página de inicio: 86
Página final: 89