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WMSCI 2008: 12TH WORLD MULTI-CONFERENCE ON SYSTEMICS, CYBERNETICS AND INFORMATICS, VOL V, PROCEEDINGS  (2008)

Model-based Correlation Measure for Gain and Offset Nonuniformity in Infrared Focal-Plane-Array Sensors

Martin, CS; Torres, S.

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Título según WOS: Model-based Correlation Measure for Gain and Offset Nonuniformity in Infrared Focal-Plane-Array Sensors
Título de la Revista: WMSCI 2008: 12TH WORLD MULTI-CONFERENCE ON SYSTEMICS, CYBERNETICS AND INFORMATICS, VOL V, PROCEEDINGS
Editorial: INT INST INFORMATICS & SYSTEMICS
Fecha de publicación: 2008
Página de inicio: 275
Página final: 280
Idioma: English
Notas: ISI