Errata ISI
Journal of the Chilean Chemical Society  (2010)

SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF CHITOSAN COMPOSITE FILMS (vol 55, pg 352, 2010)

Cardenas, G; Anaya P.; Del Rio R.; Schrebler, R; Von Plessing, C; Schneider, M

Más información

Título según WOS: SCANNING ELECTRON MICROSCOPY AND ATOMIC FORCE MICROSCOPY OF CHITOSAN COMPOSITE FILMS (vol 55, pg 352, 2010)
Título de la Revista: Journal of the Chilean Chemical Society
Volumen: 55
Número: 4
Editorial: SOC CHILENA QUIMICA
Fecha de publicación: 2010
Página de inicio: IX
Página final: IX
Idioma: English
Notas: ISI