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Remote Sensing  (2015)

Using Ridge Regression Models to Estimate Grain Yield from Field Spectral Data in Bread Wheat (Triticum Aestivum L.) Grown under Three Water Regimes

Hernandez, J; Matus, I; Del Pozo A.; Silva, P; Galleguillos, M.

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Título según WOS: Using Ridge Regression Models to Estimate Grain Yield from Field Spectral Data in Bread Wheat (Triticum Aestivum L.) Grown under Three Water Regimes
Título según SCOPUS: Using ridge regression models to estimate grain yield from field spectral data in bread wheat (Triticum Aestivum L.) grown under three water regimes
Título de la Revista: Remote Sensing
Volumen: 7
Número: 2
Editorial: MDPI AG
Fecha de publicación: 2015
Página de inicio: 2109
Página final: 2126
Idioma: English
DOI:

10.3390/rs70202109
Notas: ISI, SCOPUS