Article ISI SCOPUS
MATERIALS LETTERS  (2016)

Atomic force microscopy (AFM) and 3D confocal microscopy as alternative techniques for the morphological characterization of anodic TiO2 nanoporous layers

Oyarznun, DP; Perez, OEL; Teijelo, ML; Zúñiga C.; Jeraldo, E; Geraldo, DA; Arratia-Perez, R

Keywords: thin films, materials characterization, 3D confocal microscopy, TiO2 nanoporous, Tuning fork AFM

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Título según WOS: Atomic force microscopy (AFM) and 3D confocal microscopy as alternative techniques for the morphological characterization of anodic TiO2 nanoporous layers
Título según SCOPUS: Atomic force microscopy (AFM) and 3D confocal microscopy as alternative techniques for the morphological characterization of anodic TiO2 nanoporous layers
Título de la Revista: MATERIALS LETTERS
Volumen: 165
Editorial: Elsevier
Fecha de publicación: 2016
Página de inicio: 67
Página final: 70
Idioma: English
DOI:

10.1016/j.matlet.2015.11.087
Notas: ISI, SCOPUS