Article ISI SCOPUS
JOURNAL OF APPLIED STATISTICS  (2016)

Diagnostics in elliptical regression models with stochastic restrictions applied to econometrics

Leiva, V; Liu, SZ; Shi, L; Cysneiros, FJA

Keywords: elliptically contoured distributions, computational statistics, generalized least squares, local influence method, maximum-likelihood method, mixed estimation

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Título según WOS: Diagnostics in elliptical regression models with stochastic restrictions applied to econometrics
Título según SCOPUS: Diagnostics in elliptical regression models with stochastic restrictions applied to econometrics
Título de la Revista: JOURNAL OF APPLIED STATISTICS
Volumen: 43
Número: 4
Editorial: TAYLOR & FRANCIS LTD
Fecha de publicación: 2016
Página de inicio: 627
Página final: 642
Idioma: English
DOI:

10.1080/02664763.2015.1072140
Notas: ISI, SCOPUS