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TETRAHEDRON LETTERS  (2016)

Pamam built-on-silicon wafer thin-layer extraction devices for selective metal contamination detection

Valdés, O; Vergara, C; Nachtigall, F. M.; Tapia, J; Santos, L. S.

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Título según WOS: Pamam built-on-silicon wafer thin-layer extraction devices for selective metal contamination detection
Título según SCOPUS: Pamam built-on-silicon wafer thin-layer extraction devices for selective metal contamination detection
Título de la Revista: TETRAHEDRON LETTERS
Volumen: 57
Número: 23
Editorial: PERGAMON-ELSEVIER SCIENCE LTD
Fecha de publicación: 2016
Página de inicio: 2468
Página final: 2473
Idioma: English
DOI:

10.1016/j.tetlet.2016.04.063
Notas: ISI, SCOPUS