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Optics InfoBase Conference Papers  (2014)

Two-wavelength electronic speckle pattern interferometry for simultaneous measurement of two in-plane displacement fields

Cordero, R

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Título según SCOPUS: Two-wavelength electronic speckle pattern interferometry for simultaneous measurement of two in-plane displacement fields
Título de la Revista: Optics InfoBase Conference Papers
Editorial: OSA - The Optical Society
Fecha de publicación: 2014
Idioma: English
Notas: SCOPUS